元器件的可靠性測試(下)
由于元器件制造水平不斷提高，新型元器件不斷出現(xiàn)，許多設計師還未能掌握新型元器件的使用方法，所以由于使用原因造成的失效在元器件失效中的比例居高不下，根據(jù)近年來國內(nèi)外電子整機失效統(tǒng)計，由于在元器件使用方面造成的失效一直在50%上下浮動，這一嚴重事實已引起人們的普遍關注，提出了進 一步開展可靠性研究的迫切要求，作為一名電子工程技術人員，學習和研究元器件使用可靠性，已成為一項重要的使命。 隨著電子科學的飛速發(fā)展，整機系統(tǒng)的性能越來越優(yōu)異，功能越來越齊全，結(jié)構(gòu)越來越復雜，所用元器件越來越多，元器件已從過去的基礎技術，躍升為現(xiàn)代的核心技術。一代新型元器件的問世，預示著新一代整機系統(tǒng)的飛躍，沒有高可靠的電子元器件，就沒有高可靠高性能的大型電子系統(tǒng)。要保障整機系統(tǒng)的可靠性，就必須在整機研制過程中對元器件的質(zhì)量進行控制。